微米级圆孔孔径的光电检测
张成云 刘佐濂 程朗 马浩 周斌
The photoelectric detection with micron grade aperture size
ZHANG Cheng-yun，LIU Zuo-lian，CHENG Lang，MA Hao，ZHOU Bin
大学物理 . 2017, (11): 38 -40 .  DOI: 10.16854 /j.cnki.1000-0712.2017.11.010

版权所有 © 2018 《大学物理》编辑部
地址：北京市海淀区新街口外大街19号 北京师范大学科技楼C区701室　邮编: 100875
电话: 010-58808024　010-58805411　E-mail:cop@bnu.edu.cn
本系统由北京玛格泰克科技发展有限公司设计开发