摘要: 简述磁致伸缩及其参数测量原理,设计了用半导体应变计取代常用的铝丝电阻应变片,研制成新型的半导体微位移传感器,并用标准长度量具对微位移传感器进行定标,从而直接测量出材料在磁场中微小长度变化量. 既解决了原先教学实验不能随意更换样品的麻烦,又提高了测量的灵敏度和精确度,准确测得多种材料的磁致伸缩系数曲线.
倪敏,张一帆,郑源明,董琳,赵彩安. 用半导体微位移传感器测量磁致伸缩系数[J]. 大学物理, 2017, 36(9): 35-37.
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