二次成像法测定光具组的基点

大学物理 ›› 2007, Vol. 26 ›› Issue (8): 44-44.

二次成像法测定光具组的基点

白泽生刘竹琴

延安大学物理与电子信息学院,陕西延安716000

出版日期:2007-08-25 发布日期:2007-08-20

Determination of the cardinal points of a compound optical system using secondary imagery method

Online:2007-08-25 Published:2007-08-20

摘要/Abstract

摘要： 介绍了用二次成像法确定两薄透镜组成的光具组基点的原理和方法，该方法测量精度较高．

关键词: 光具组, 基点, 二次成像法

Abstract: The theory and method of using secondary imagery method to determine the cardinal point of compound optical system are introduced. The precision of this method is very high.

Key words: optical system, cardinal point, secondary imagery method

中图分类号:

O435.2

白泽生刘竹琴. 二次成像法测定光具组的基点[J]. 大学物理, 2007, 26(8): 44-44.

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Determination of the cardinal points of a compound optical system using secondary imagery method

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