用表面磁光克尔原理测量薄膜材料的磁性参数

大学物理 ›› 2009, Vol. 28 ›› Issue (9): 36-36.

用表面磁光克尔原理测量薄膜材料的磁性参数

祁建霞

西安邮电学院应用数学与应用物理系,陕西西安710121

出版日期:2009-09-20 发布日期:2009-09-20

Measurement of film＇s magnetic parameters based on the principle of surface magneto-optic Kerr effect

Online:2009-09-20 Published:2009-09-20

摘要/Abstract

摘要： 以表面磁光克尔原理为机理，测量薄膜材料的磁性参数，实验上求得了饱和状态下坡莫合金的克尔偏转角，并测出了其磁滞回线。

关键词: 表面磁光克尔效应, 磁滞回线, 克尔旋转角

Abstract: Based on the principle of surface magneto-optic Kerr effect, the magnetic parameters of film mag-netic material can be measured. The Kerr angle of NiFe material is measured experimentally and the magnetic hysteresis loop is plotted.

Key words: surface magneto-optic Kerr effect., magnetic hysteresis loop, Kerr angle

中图分类号:

O441.6

祁建霞. 用表面磁光克尔原理测量薄膜材料的磁性参数[J]. 大学物理, 2009, 28(9): 36-36.

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用表面磁光克尔原理测量薄膜材料的磁性参数

Measurement of film＇s magnetic parameters based on the principle of surface magneto-optic Kerr effect

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