大学物理 ›› 2003, Vol. 22 ›› Issue (12): 33-33.
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王叶
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摘要: 半导体激光在外调制时将产生频率漂移,将这种调制激光引入Michelson干涉仪,从强度调制和频率调制双重假设出发导出光强干涉方程,通过测量干涉项的相位噪声确定频率漂移值并对实验结果与过程作探讨.
关键词: Michelson干涉仪, 单纵模半导体激光, 频率漂移, 相位噪声
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王叶. 干涉法测量半导体激光频率漂移实验[J]. 大学物理, 2003, 22(12): 33-33.
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