用迈克耳孙干涉仪测量真空镀金属膜厚度及光学常数
李文明 喜春凯
大学物理 . 1993, (6): 38 -38 . 

版权所有 © 2018 《大学物理》编辑部
地址：北京市海淀区新街口外大街19号 北京师范大学科技楼C区701室　邮编: 100875
电话: 010-58808024　010-58805411　E-mail:cop@bnu.edu.cn
本系统由北京玛格泰克科技发展有限公司设计开发