把“四探针测量金属薄膜电阻率”引入普通物理实验
邱宏 吴平 王凤平 潘礼庆 黄筱玲 田跃
The general physics experiment:measurement of resistivity of metal film using four-point probe technique
大学物理 . 2004, (5): 59 -59 . 

版权所有 © 2018 《大学物理》编辑部
地址：北京市海淀区新街口外大街19号 北京师范大学科技楼C区701室　邮编: 100875
电话: 010-58808024　010-58805411　E-mail:cop@bnu.edu.cn
本系统由北京玛格泰克科技发展有限公司设计开发