基于迈克尔孙干涉的光学元件厚度测量实验装置
周冀馨,王云新,张　欣
The experimental device for measuring the thickness of the optical elements based on the Michelson interferometer
ZHOU Jinxin,WANG Yunxin，ZHANG Xin
大学物理 . 2016, (5): 24 -26 . 

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