大学物理 ›› 2004, Vol. 23 ›› Issue (6): 51-51.

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利用线阵CCD测量透明介质折射率

花世群   

  1. 江苏大学理学院,江苏镇江212013
  • 出版日期:2004-06-25 发布日期:2004-06-20

Measuring index of refraction of transparent medium with linear CCD

  • Online:2004-06-25 Published:2004-06-20

摘要: 根据光线穿过厚度均匀的透明介质平板时所产生的横向偏移量,提出了一种利用线阵CCD和计算机测量透明介质折射率的新方法.该方法充分利用了线阵CCD分辨率高的特点,并且具有一定的实用价值和应用前景.

关键词: CCD, 透明介质, 折射率

中图分类号: 

  • O435.1